多模态视觉质检系统：电子元件缺陷识别定制交付

本次交付聚焦SMT贴片车间后段质检环节，客户原有AOI设备误检率偏高，且对BGA焊点隐蔽缺陷识别不足。我们基于定制化视觉模型，将传统2D检测升级为2D+3D点云融合方案，配合自建缺陷样本库（涵盖虚焊、桥连、立碑等7类典型缺陷），在产线节拍1.2秒/件的限制下，将漏检率从3.8%降至0.6%。项目要点：1. 采用小样本学习+主动学习机制，仅用1200张初始标注样本即达到上线标准，3周完成数据闭环；2. 模型轻量化后部署至工控机，硬件成本控制在原AOI方案的35%，便于产线横向复制。目前系统已稳定运行2个月，日均处理12万件，支持远程配置与缺陷分类回标，客户正推进复制到另外2条产线。