在显示面板外观检测中，难点往往不是「有没有缺陷」，而是「这条缺陷算不算判退」。浅划痕、膜层异色与Mura（亮度不均）在低对比度成像下与正常纹理高度相似，阈值稍紧过检激增，稍松则漏检，复判人力被大量消耗。
本阶段实验围绕三个环节推进：一是多光源分时成像（同轴光＋低角度光＋背光）合成缺陷证据图，提升浅划痕与异色的信噪比；二是将缺陷按形态、面积、灰度差与区位（可视区／边框区／端子区）做结构化分级，模型输出分级结果而非单一OK/NG；三是复判阈值自校准，用近30天产线复判记录反推各等级判定边界，减少人工调阈值。
进展与数据：
- 在G6线外观检测工位的小样本试跑中（缺陷样本不足2000张，含Mura、微划痕、异物、异色四类），分级模型对Mura与异色的分级一致率较原规则阈值提升约12个百分点，过检率下降，单班复判量减少约三成。
- 下一步：接入不同尺寸面板的换型参数（像素密度、视区边界），验证换型后首小时模型稳定性，并补充低照度工位的成像补偿策略。
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