组件下线前的EL（电致发光）成像是隐裂、断栅、虚焊最直接的证据，但判级长期依赖熟练质检员，一致性受班次与经验影响。我们把这件事拆成两步：模型只负责“看见”，规则层负责“定性”。
第一步是像素级缺陷分割。隐裂在EL图上多表现为细而低对比的暗线，宽度常不足3像素，且容易与电池片主栅方向混淆。我们用少量标注配合形态学增强，把暗线从栅线纹理中分离，再以裂纹拓扑（起点、分叉、是否贯穿）描述形态，而非直接输出合格与否。
第二步是判级规则层。不同客户对隐裂长度、位置（是否跨主栅、是否落在焊接区）的容忍度不同，我们把判级标准做成可配置规则表，模型输出结构化缺陷描述后由规则层给出分级与返修建议，标准变更时无需重新训练模型。
当前进展：在约1.2万张历史EL图上离线验证，碎片、断栅等明显缺陷召回稳定；细隐裂的误报主要来自划痕与栅线断点，人工复核量较全量复判下降约六成，单张推理控制在200ms内，可匹配串焊后与层压后两个检测位节拍。
下一步：将分级结果与后续功率测试数据对齐，尝试建立隐裂形态—功率损失的回归，用真实发电损失校准判级阈值，而不是仅凭图像尺度判定。
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