EL（电致发光）成像是光伏组件内部缺陷的主要检测手段，但「检出」与「判级」是两件事。隐裂、断栅、黑片在图像上差异细微，而是否降级、是否返修，取决于裂纹长度、跨越电池片数量与所在位置——这套规则往往只存在于资深质检员的经验里。
本实验室近期的工作，是把判级规则显式化后再交给模型：先对EL图像按电池片切片并做缺陷分割，再将分割结果映射为可解释的几何量（裂纹长度、跨片数、面积占比），最后按可配置阈值输出等级建议，而不是直接抛出「合格/不合格」。
进展与数据：
- 在自有产线约1.2万张EL图像上，隐裂三级判级与两名质检员复判的一致率约88%，分歧主要集中在细密隐裂与栅线阴影的混淆；
- 下一步引入同组件可见光图像做交叉校验，并把判级阈值开放给工艺端配置，以适配不同客户的验收口径。
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