显示面板外观检测的难点集中在低对比度缺陷：Mura、微划伤、异物等与背景灰度差往往不足2%，传统阈值与规则方法容易在过杀与漏检之间反复摆动。本实验室近期的实验重点，是把检测流程从“整图判定”改为“多尺度候选＋细粒度判别”两段式：前段在1/4分辨率上生成候选区域，后段回到原始分辨率做局部判别与缺陷归类，以缓解高分辨率图像的算力压力。
进展与数据：
- 构建含Mura、划伤、异物、边缘崩缺等类别的面板外观数据集（约1.2万张，含产线实拍）；等效50μm以下微缺陷召回由基线82.3%提升至94.1%，过杀率控制在1.1%，单张全幅检测耗时约380ms。
- 缺陷输出附带定位坐标与置信度，可回传QMS做批次追溯，辅助区分来料、工艺或搬运环节的引入来源。
下一步计划：引入“少量标注＋正常样本”的无监督异常检测分支，覆盖新料号冷启动场景，并将检测结果与产线复判数据打通，形成闭环迭代。
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