显示面板Mura缺陷AI视觉检测方案探索

针对OLED/LCD显示面板Mura缺陷低对比度、形态多变的特性，本期实验室探索了基于多尺度特征融合的轻量化检测方案。进展：在自建小样本数据集上将召回率提升至96.2%，单图推理耗时稳定在180ms以内。下一步计划引入无监督异常检测分支，减少对缺陷标注样本的依赖，并推进产线工控机的实景部署与稳定性验证。