针对锂电池极片涂布工序漏箔、划痕与颗粒污染等缺陷的识别难题,实验室完成一阶段小样本模型验证。在首批约2000张样本下,漏箔与划痕类严重缺陷召回率稳定在96%以上,颗粒类细微缺陷召回率约88%。下一步将引入多光源融合成像与对比学习策略,提升细微缺陷在产线高速节拍下的识别稳定性,并推进与涂布机台工艺数据的闭环联动。
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