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少样本缺陷检测:精密装配场景方法验证

在精密装配与多品种小批量生产中,单一缺陷类别的有效样本往往只有几十到上百张,传统监督模型难以稳定收敛。我们与一家医疗耗材制造商合作,尝试以少样本学习方法构建视觉质检模块。

近两周进展要点:

  • 采用视觉-语言预训练模型提取通用工业纹理表征,配合原型网络在 5-shot 设定下完成 12 类外观缺陷分类,验证集平均 F1 达到 0.78;
  • 引入基于 ControlNet 与缺陷掩码叠加的合成样本生成,将最稀缺 3 类缺陷的召回率由 0.41 提升至 0.66;
  • 在 Jetson Orin Nano 边缘端完成推理优化,单张图像端到端耗时 < 280ms,初步满足产线节拍;
  • 漏检与过杀成本差异显著,下一步将引入业务成本矩阵对决策阈值做联合寻优;
  • 计划在 Q3 增加跨产品族迁移实验,验证模型对新品的冷启动能力。

当前仍处于内部灰度阶段,目标是把流程沉淀为可复用的少样本质检方法模板,覆盖更多数据条件相似的客户。

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