显示面板微弱外观缺陷检测：偏振暗场增强与复检

在 Cell 与模组段外观检测中，玻璃表面的微划痕、浅压痕对比度低，常被反射眩光和面板自身图案掩盖，是漏检与过检的主要来源。本期实验室围绕「先增强、再判定」的思路做了离线验证。

成像端采用四向低角度暗场配合线偏振片与检偏器，抑制表面镜面反射，按方位采集 8 张子图后在梯度域做加权融合，微划痕的局部对比度提升约 2.3 倍（实验台灰度标准差口径）。算法端不做全像素分类，而用两级结构：一级以正常样本重建给出异常热力图，仅在热力图峰值区域触发二级高分辨复检与缺陷贴边，减少无缺陷区域的计算量与误报。

要点：

• 在 6 代线抽检离线集（1,240 张，覆盖划痕、异物、Mura 三类）上，微弱划痕检出率由 82.4% 提升至 94.1%，误报率由 4.8% 降至 1.9%；
• 下一步验证多站点光源一致性标定与 30 秒/片节拍下的推理时延，评估上线可行性。

以上为离线实验数据，产线侧受洁净度、振动与光源衰减影响，仍需现场标定后再判断实际收益。