显示面板外观检测：掠射照明与弱缺陷分级

在显示面板模组段的外观检测中，Mura（亮度不均）与细微划伤长期是漏检和过杀的主要来源：这类缺陷对比度低、面积大、边界弥散，常规正向明场成像容易把面板自身的亮度梯度误判成缺陷，而一味压低阈值又会推高人工复判量。

本阶段实验把成像条件改为多角度掠射照明，并配套背景匀光校正：先用无缺陷面板建立分区亮度基线，对在线图像做低频分量扣除，再对残差图做缺陷分割；随后按面积、对比度与位置把候选缺陷分成三级，只有二级以上才推送人工复判，避免边缘正常纹理进入复判队列。

要点：

• 在某模组线试点工位，弱对比度 Mura 召回率由约 82% 提升至 93%，人工复判量下降约四成；
• 分级阈值目前仍依赖批次标定，下一步计划用小样本对比学习让阈值随面板型号与亮度档位自适应，减少换型时的人工调参。