AI显示面板外观缺陷检测：低对比度划痕的成像增强与分级

在显示面板外观检测环节，划痕、Mura、异色点等缺陷的对比度往往低于3%，传统阈值分割容易漏判，而人眼在强反光下也易疲劳。本实验室近期围绕「低对比度成像增强 + 缺陷分级」做了一轮实验性探索，思路是先用多角度条纹光与偏振成像采集同一区域的互补图像，再由轻量卷积网络做多帧融合，把微弱划痕的信噪比提升到可分级的水平。

进展与数据：在3840×2160分辨率的面板样本集上，融合增强后划痕召回率由71%提升至89%，过杀率保持在2.1%以内；单帧推理耗时约47毫秒，可在现有产线节拍下跑通。分级策略上，我们按长度、宽度与位置分区输出A/B/C三档，避免一刀切判废。

下一步计划：补充曲面与折叠屏样本，验证偏振方案在弧度区的稳定性；同时把分级阈值开放为可配置项，方便不同面板厂按自身良率目标微调。