显示面板外观检测的难点不在“有没有缺陷”，而在“缺陷够不够清楚、判定够不够稳”。玻璃基板、偏光片与模组段常见的微划痕、异物、Mura 与边缘崩缺，在单一光源下对比度不足，或与工艺纹理、镀膜反光混淆，导致漏检与过杀同时存在。
本阶段实验以多光源分时成像为前端基础：低角度暗场突出划痕与颗粒，同轴明场保留纹理基线，侧向掠射捕捉边缘崩缺；三组图像像素级对齐后送入分割网络，由网络自行学习不同缺陷对光源的敏感度差异。后端判定改为两级结构，第一级做像素级定位与面积测量，第二级结合位置、形状与灰度分布完成分类与等级映射，把“疑似”统一收敛为确定等级。
阶段性进展：
- 在自建样本集上，微划痕漏检率由单光源基线的 9.6% 降至 3.1%，过杀率控制在 2% 以内；
- 分级判定与人工复判一致率约 92%，分歧主要集中在边缘崩缺的等级边界；下一步计划引入跨批次灰度归一化，并验证换型时的光源参数自动适配。
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