AI面板外观缺陷检测定制：Mura灰度与脏污区分

显示面板外观检测中最难的一类不是划伤，而是Mura：亮度差常在1%~3%之间，随观察角度漂移，固定阈值要么漏检，要么把脏污误判为缺陷。本阶段实验围绕“成像—残差建模—像素级判读—擦拭复判”四步展开。
要点1：成像端采用低角度侧光与同轴光双通道，抑制表面反射不均；算法端先用多项式拟合估计背景亮度面，再对残差图做方向性滤波，把划伤（高频线状）与Mura（低频块状）分到不同频带处理，减少相互干扰。
要点2：为区分“擦得掉”的脏污与真实缺陷，加入擦拭前后双帧亚像素配准比对环节。试运行数据显示，脏污误报占比由初期约四成降至一成五，Mura类漏检同步减少。
下一步计划：引入自监督预训练扩充稀少缺陷样本，并把灰度判级标定与客户允收标准对齐，避免检测能力与验收口径脱节。