AI显示面板外观缺陷检测：Mura分级与复判闭环

显示面板外观检测的难点不在“看见”缺陷，而在“判得稳”。同一块屏在相位偏折成像下，Mura 表现为低对比度、大面积的缓变灰度起伏；亮暗点、划痕、异物、边缘破片则呈现局部高频信号。两类信号混在同一条判定链上，容易互相干扰。

本阶段实验把任务拆成三层：先用相位偏折与同轴明场双通道成像做几何对齐与背景匀场，抑制面板自身亮度梯度；再用弱监督分割定位疑似区域，规避逐像素标注的高成本；最后按客户规格书对 Mura 做等级量化（面积、对比度、位置分区），输出可追溯的判定分值，而非单一良/不良结论。

要点：

• 进展：在 6 代线试产数据上，Mura 过杀率较原阈值法下降约 37%，异色点漏检从 1.2% 降至 0.4% 量级，关键是把成像条件与判定参数分开标定。
• 下一步：引入少量人工复判结果做在线校准，使等级阈值随产品型号与订单规格自动切换，并打通复判回流的小样本更新链路。