AI面板Mura检测定制：分区本底补偿与灰度对比

显示面板的Mura（云斑）类缺陷灰度差常只有1~3个灰阶，且随分区工艺本底缓慢漂移，固定阈值方案容易在漏检与过杀之间反复摇摆。本期实验把成像与判定拆成两条链路分别验证。

· 进展：采集模组段点灯、熄灯与多角度低角度侧光三类图像，按面板分区建立本底灰度基线，以分区残差替代绝对灰度作为模型输入；判定侧改用小感受野卷积加通道注意力结构，输出缺陷掩膜与置信度，并附带灰度对比度、面积、长宽比三项可解释量，便于回溯至阵列段或成盒段工序。
· 阶段性数据：在3类面板、约1.2万张样本上，1~2灰阶弱Mura召回率由基线71%提升至89%，过杀率由4.6%降至2.1%，单张判定耗时约380ms。

下一步将补充偏光片贴附后的划痕与异物样本，验证多工序共用同一检测底座时的阈值迁移成本。