AI面板外观缺陷检测定制：多角度打光与过杀率收敛

显示面板外观检测的难点不在“看不见缺陷”，而在“看得清又不误报”。面板表面同时存在镜面反射、纹理摩尔纹与微弱划痕：单一角度光源下，划痕对比度常不足3个灰阶；而反光区域又极易被判为脏污，使过杀率长期偏高。

本阶段实验围绕“多角度成像 + 轻量分类”展开：以4路可编程条纹/同轴光源分时曝光，采集同一视场的明场、暗场与斜射图像，配准后输入共享骨干网络，分别输出缺陷位置与类型（划痕、异物、Mura、边缘破损）；另设基于正常样本建模的异常打分分支，用于兜底未知缺陷。

要点：

• 进展：在盖板玻璃与OLED模组等3类面板的离线验证中，过杀率由初版9.6%降至3.1%，划痕召回保持98%以上；单视场推理约45ms，可匹配现产线节拍。
• 下一步：接入AOI复判工位，用人工复判结果做在线增量更新，并针对曲面边缘的成像畸变补充标定样本。