金属结构件与玻璃盖板表面的微划痕，在常规明场成像下对比度极低，高光与加工纹理的干扰往往强于缺陷本身。计算机视觉实验室近期做了一组实验性探索：用多角度频闪光源采集同一视场的序列图像，反解法向与反照率，把缺陷判断从亮度域搬到几何域。
- 进展：单相机配 4~8 个方向光源即可完成采集，序列内曝光间隔压在 20ms 以内，以抑制工件微动带来的配准误差；重建后以法向梯度与曲率构造缺陷显著图，对深度约 0.02mm、宽度 30μm 量级的浅划痕，实验室条件下的检出表现优于明场方案，高光区域的漏检明显下降。
- 下一步：把光源序列与线扫节拍对齐，降低单件成像耗时；在自由曲面与大曲率表面验证法向重建精度，并测试车间环境光波动下的稳定性。
该路线尚处验证阶段，暂不适合替代外观全检，更现实的定位是与明场通道并行，专门负责低对比度划痕这一类难样本。
评论