AI面板外观缺陷检测：偏振成像与Mura弱监督分割

在显示面板外观检测中，Mura、细微划痕与异物在低对比度背景下极易漏检，且表面反光常与真实缺陷混淆。本实验室近期围绕“偏振成像+弱监督分割”开展实验性探索：采用偏振相机与明场/暗场多通道同步采集，利用偏振度差异分离表面反射与内部散射，增强微弱Mura的信噪比；模型侧以自监督预训练编码器提取纹理与频域特征，仅需少量像素级标注即可微调分割头。阶段性进展：在内部测试集上，微弱Mura召回率由76%提升至89%，划痕与灰尘误判率下降约3个百分点，单张推理耗时控制在80ms以内。下一步计划：引入跨型号域适应与在线难例挖掘，并在产线节拍下验证长期稳定性。