显示面板外观检测的难点集中在低对比度缺陷：Mura、微划伤、异色点在常规工位下与背景的灰度差往往不足 3 个灰阶，传统阈值 AOI 要么漏检，要么把镀膜纹路误判为缺陷。本实验室本期围绕该定制系统的实验性探索做了三件事：一是成像端采用低角度掠射与偏振组合照明，配合逐行背景拟合，压低面板表面照度不均与反射噪声；二是把判别改为两级结构，先由轻量分割网络给出疑似区域，再由分类网络结合面积、长宽比与灰度梯度方向做真假判别；三是标定分级判废阈值，将输出映射为可复判、可报废、可放行三档，按机型配置。
【进展】在自建样本集（约 1.2 万张，含 Mura、划伤、异物、异色四类）上，弱对比度缺陷召回率较阈值基线提升约 18 个百分点，单张 4K 图像推理耗时控制在 120 ms 内，可匹配现有产线节拍。
【下一步】补充不同背光亮度与面板批次下的样本，验证判废阈值的迁移稳定性，并将人工复判结果回流为增量训练数据。
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