在表面缺陷检测中，光源方案往往比算法更早决定项目成败。同一种划痕在环形光下可能被完全淹没，在低角度条形光下却清晰可辨。传统做法依赖工程师经验反复试错，周期长且难以复用。
本实验室近期围绕"缺陷类型—材质—打光方案"的映射做了阶段性实验：先用小样本采集同一工件在多种光源角度、色温、偏振组合下的成像结果，再以缺陷对比度与背景均匀度作为评价指标，训练一个方案排序模型。输入为工件材质、表面粗糙度、目标缺陷形态（划痕、脏污、凹坑、异色），输出为推荐的前三组打光方案及预期成像指标。
进展与数据：在包含 6 类材质、4 类缺陷的内部数据集上，模型推荐的首选方案与资深工程师最终选定方案的吻合率约为 74%，前三位命中率约 91%；单次打光验证从平均 3.5 轮降至 1.8 轮。
下一步计划：接入成像仿真，在实物验证前先做光路预演，并将偏振与多光谱光源纳入候选空间，进一步压缩现场调试时间。
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