显示面板弱对比缺陷检测：多角度光度成像与分级判读

在显示面板外观检测中，划痕、Mura与异色点常在常规视角下几乎不可见，单张同轴成像的对比度不足是漏检的主要来源。本阶段实验沿两条线推进：成像端采用同轴明场加两路低角度暗场的光度序列采集，同一位置获取三组光照响应，再以差分与比值特征增强弱对比信号；算法端将光度序列作为多通道输入训练分割网络，输出缺陷掩膜与置信度，并按面积、对比度梯度与形态规则做分级判读，避免把灰尘、指纹与真实缺陷混同。

要点：

• 进展：在自建的约4200张含缺陷面板样本上，微弱划痕检出率由单光源基线的78%提升至91%，过杀率由6.2%降至3.4%；异色点类样本量偏少，仍是当前短板。
• 下一步：固化不同亮度与视角下的采集标定流程，引入缺陷合成增广扩充异色点样本，并将分级阈值下放到边缘端做在线试跑。