锂电池极片涂布的缺陷多为散射型，在明场同轴成像下与背景灰度接近，细划痕与颗粒常被辊压产生的周期性条纹淹没，形成「看得见却判不准」的检测下限。本期《计算机视觉实验室》在一条中试涂布线上做了一组对照实验：改用暗场线扫成像，配合走带方向的多帧对齐，把位置稳定的周期条纹归入背景模型，只保留随位置漂移的异常响应参与判定。
阶段性结果：散射型缺陷召回率由同轴明场的约 88% 提升至 96% 量级，单卷误报从十余处降至 3 处左右；涂布边界处的反光误报仍依赖人工兜底。要点如下：
- 条纹本身不是缺陷，却决定了检测下限。先用频域模板建模辊压周期，再在残差图上做阈值判定，比单纯拉高对比度更稳定，也更容易在不同机台间迁移。
- 下一步把单帧判定改为卷级判定：沿走带方向对缺陷做连续性聚类，输出「连续暗斑带」「孤立颗粒」等语义结论，并将涂层厚度、走带速度纳入阈值自适应，减少换规格时的重新调参。
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