显示面板外观缺陷检测：小样本与多光源融合

在显示面板外观检测中，Mura、划伤、异物与亮暗点的形态差异大，且量产中缺陷样本天然稀少，直接训练分类器容易过拟合。本实验室近期的实验思路是把问题拆成“成像稳定性”和“小样本异常判定”两段：成像端采用低角度暗场与同轴明场组合，一次拍摄多图，用频域背景抑制削弱周期性像素结构与膜层反光；判定端以正常样本建立特征记忆库，异常区域分割后再按面积、对比度、位置做分级，减少对缺陷样本数量的依赖。

进展：在内部试验线上，对三种面板型号做交叉验证，常见划伤与异物检出保持稳定，Mura类低对比度缺陷仍需结合多光源差分。下一步将引入型号自适应的阈值标定，并把误报样本回流为复判数据，评估换型切换时间与产线节拍的可接受度。