显示面板外观缺陷检测：弱对比成像与分级复判

在显示面板外观检测中，划痕、Mura、异色与脏污常因低对比、强反光和叠层纹理而被漏检。本实验室近期围绕“成像—检测—复判”链路做实验性探索：先以多角度条纹光与同轴暗场组合采集，提升弱对比缺陷的信噪比；再以粗定位网络锁定候选区，用轻量分类模型做缺陷归类与置信度输出；最后接入分级复判策略，把低置信样本送人工工位并回流训练。

阶段性进展：在自建面板图像集上，弱对比划痕的相对检出率提升约12%，过杀率下降约18%，单张4K分块推理时延控制在80ms内。下一步计划：补充Mura与异色样本的合成与真实采集，验证跨型号迁移；同时把复判结果与阈值调优做成周级闭环，减少产线换型后的重新调参成本。