AI显示面板缺陷检测定制：微划痕增强与跨机台一致性

显示面板外观检测中，微划痕、浅压伤等弱对比缺陷常被反光与纹理背景掩盖，换到另一台设备后阈值又需重新调整。本阶段实验把重点放在“成像可复现”而非单纯替换模型：在原有明场基础上叠加低角度暗场与偏振通道，用同一片标准缺陷板在三条产线上采集数据，先做光照归一化与背景纹理抑制，再将多通道特征送入轻量分割网络，输出缺陷掩膜与置信度；灰区样本进入复判队列，由人工标注回流。

要点：

• 进展：在三条产线、六类面板纹理上，弱划痕召回率由 82.4% 提升至 91.7%，单张推理耗时 38ms，误报率未明显上升。
• 下一步：验证跨机台阈值自校准，利用标准板做每日漂移监测，并将复判结果接入缺陷分级与追溯归档。