显示面板的mura类缺陷对比度常低于2%，单一明场成像下与膜层色差不分明；而浅划痕、异物在高角度同轴光下又容易被表面反射压制。本轮实验把成像端作为主要变量：在同一工位轮询四种方位角的低角度掠射光与一次同轴明场，用光度立体解算表面法向分量与反射率分量，将「形貌差异」与「颜色差异」解耦，再分别送入两个轻量分类头判定。
要点：
- 进展：在55英寸4K面板样本集（mura、浅划痕、异物、膜层色差四类）上，掠射光法向图使浅划痕召回由81%提升至94%；明场反射率分量对mura的误检由每片3.1处降至0.8处，单工位成像耗时增加约0.4s。
- 下一步：将光源配方与判定分区（有效区／边缘区／异形区）做成产线可配置项，使不同世代线与型号切换时只改配方、不动模型，并在节拍≤6s/片的条件下验证长时稳定性与光源衰减补偿。
评论