AI显示面板外观检测定制：条纹偏折成像与深度判别

高反光盖板玻璃与OLED屏体在明场成像下，划伤、凹坑与灰尘、纤维、镀膜色差的灰度表现高度接近，单一灰度图容易把可清除附着物判成本体损伤。本实验室本阶段把成像环节改为条纹偏折：由屏幕投射相移正弦条纹，相机接收镜面反射后的形变条纹，解相位得到表面梯度场，缺陷的"形变连续性"由此成为可直接观测的量。

要点一（阶段性进展）：在内部约1200张实拍样本上，以4步相移的梯度图作为输入，轻量分割网络对深度大于5μm划伤的召回约92%，对灰尘、纤维等可清除附着物的误报下降约四成；深度小于2μm的浅痕仍与镀膜不均混淆，暂不纳入自动判定。

要点二（下一步计划）：引入多角度照明做二次仲裁，将原始灰度图与梯度图组成双通道输入，并补充雾面、曲面盖板样本，验证该方法在非镜面材质上的迁移边界。