AI面板外观检测定制：低角度成像与Mura分级

在显示面板外观检测中，微划痕与Mura（灰阶不均）是最难稳定判定的两类缺陷：正打光下划痕对比度低，Mura又常被当作正常渐晕放过。本阶段实验把成像与算法分开处理：

1）成像侧采用同轴光与低角度暗场光分时曝光，两组图像配准融合后，微划痕在暗场下的边缘响应明显增强，而亮度均匀性信息仍保留在正打光图像中；
2）算法侧不再使用统一阈值，Mura 改为对亮度场做低频背景拟合并差分，输出对比度幅值与面积，再按机型标定的分级表判定；划痕走轻量分割网络出掩膜，按长度与灰度深度分级。

在一条6.5代线的抽样实测中，微划痕召回由82%提升至94%，Mura误报下降约35%，边缘端单张推理约280ms。下一步重点是批次间亮度漂移：以产线首件做自适应标定，并把分级结果接入人工复判队列，目标将复判率压到5%以内。