AI面板微缺陷成像定制：多角度斜射与差分增强

显示面板暗态检查中，微亮点、细划痕与异性异物在低对比度下容易被背景Mura淹没，单纯提高增益又会引入噪点误报。本阶段实验在现有AOI工位上增加两路低角度斜射光与一路同轴明场，按毫秒级分时曝光采集三帧图像：以明场帧建立面板固有灰度基线，用斜射帧做差分增强，使划痕与异物的边缘信噪比提升约2倍；再对候选区域做亚像素定位与灰度剖面拟合，输出长度、宽度与对比度三项量值，替代原有的单阈值判定。
【进展】在实验室6代线离线样片上，微亮点召回率由约82%提升至93%，单片面均误报降至0.8处；
【下一步】引入光源角度自适应策略，按膜层反射率自动选择入射角，并接入产线节拍做连续验证。