在金属外壳、光学镜片等外观件质检中，划痕检测长期受制于成像方向单一——顺光下浅划痕几乎不可见，强侧光又容易把纹理误判为缺陷。本实验室近期完成一组实验性验证：用四向可编程环光配合低角度掠射，在同一工位对工件分时采集四组不同入射角的图像，再以轻量融合网络输出统一缺陷掩膜，避免多相机方案的标定与成本开销。
阶段进展：
- 在2000片手机中框样本上，四角度融合相较单角度顺光成像，浅划痕召回率由61%提升至89%，过杀率由7.4%降至3.1%，单片采集与推理总耗时控制在320ms以内；
- 分级判定采用“长度+深度代理特征+位置”三维规则，将划痕分为可抛光返修、限区域放行、判废三档，与人工复判一致率约92%。
下一步计划：引入深度代理的定量标定（以激光共聚焦数据做弱监督回归），并针对拉丝、喷砂等纹理面做鲁棒性专项验证，重点观察纹理与浅划痕在高频特征上的可分性是否稳定。
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