AI面板凹凸缺陷检测定制：光度立体与法线重建

在显示面板外观检测中，划痕、压痕与附着异物在单张灰度图上的对比度往往相近，仅靠2D纹理模型容易混淆，复判成本偏高。本阶段实验在定制检测系统上引入多角度光度立体成像：以6个低角度环形光源分时曝光，先完成光源强度与几何标定，再重建表面法线图与曲率图，与原始灰度图组成双通道输入，交由分割网络判类。初步结果为，压痕等凹凸类缺陷与异物、尘点的区分准确率相比纯2D基线提升约7个百分点，异物误报下降约三成；对深度较浅的软划痕仍存在漏检，主要受曝光抖动与面板自身Mura纹理干扰。下一步计划在保持产线节拍的前提下，把光源角度压缩至4个并实测重建耗时，同时将曲率极值与深度估计接入分级规则，输出可复核的缺陷深度区间。