显示面板外观检测中，最难的往往不是明显破片或脏污，而是灰度差只有几个级别的弱对比缺陷：Mura、浅划痕、镀膜色差。这类缺陷在固定角度环光下几乎不可见，也是传统AOI漏检与过杀的主要来源。
本实验室近一阶段的实验，把问题拆到成像端与判定端分别处理。成像端采用四向可编程条光，按缺陷类型切换入射角，并叠加多帧配准融合，将弱对比区域的局部对比度提升约2～3倍；判定端使用轻量分割网络输出缺陷掩膜与量化特征（面积、对比度、方向），再按人工判级口径做等级映射。
要点
- 进展：在某批6.5代线样品上做离线验证，弱对比Mura检出率由82%提升至约94%，过杀率由5.8%降至3.1%，分级结果与人工复判的一致率约91%。
- 下一步：把四向光源切换与推理串进同一节拍，目标单件处理不超过350ms；同时补充不同膜层与曲面色差样本，验证阈值在换线后的稳定性。
需要说明的是，上述均为小批量离线数据，尚未做量产线长周期验证，光源切换带来的节拍开销仍是主要不确定项。我们更倾向于把可解释的量化特征留在系统里，而不是只输出一个分类结果。
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