显示面板外观检测中，亮点、划伤一类高对比缺陷已较易检出，真正难判的是Mura：亮度差异常在2%~5%，边界弥散，且与拍摄角度、背光均匀性耦合，用固定阈值很容易被当作背景波动略过。
本阶段实验把成像与判定拆成两段。成像侧采用明场、暗场、低角度侧光三路分时采集，同片对齐后做多帧灰度归一化，再用低秩加稀疏分解把背光不均这类全局渐变分离出去，缺陷残差在暗场下信噪比明显抬升。判定侧不直接给二分类，而是输出Mura的面积、对比度梯度与方位，按面板厂常见判定口径折算成分级结果，交复判人员核对。
进展与下一步：
- 在含分区背光的样品集上，弱Mura召回较单路明场基线提升约12个百分点，过杀率控制在3%以内；
- 下一步补入不同灰阶与视角的样本，验证分级阈值在亮度漂移下的稳定性。
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