显示面板外观缺陷检测：低对比度Mura增强与判定

在电子显示制造中，面板外观缺陷检测的难点往往不在明显划伤、脏污，而在低对比度Mura、微亮暗点、边缘漏光等。这些缺陷在常规明场成像下信噪比低，容易与膜面纹理、反射条纹混淆。本实验室近期围绕《显示面板AI外观缺陷检测系统定制》做了一组实验性验证：先用多角度低角度光与同轴光组合，获取同一面板的多通道图像，再通过配准融合增强缺陷对比度；随后由轻量分割网络输出缺陷候选区域，并加入面板分区先验，抑制边框、开孔区和纹理周期带来的误报。阶段性进展：在内部小样本集上，低对比度Mura候选召回较单光源基线提升约12个百分点，单张推理耗时控制在80ms内，产线节拍可接受。下一步计划：补充不同膜材与工艺批次的样本，把判定阈值从固定值改为按面板型号与亮度分布自适应，并建立缺陷等级与复判工单的对应关系，便于工程师追溯。我们不追求替代全部人工复判，而是先把高重复、低争议的判读稳定下来，再逐步覆盖更复杂的复合缺陷。