显示面板AI外观缺陷检测：弱对比缺陷与分级复判

显示面板外观检测的难点，往往不在明显破片或脏污，而在低对比度的Mura、微划痕、膜层异色与灰尘混淆。实验室本期把重点放在两件事：用多角度低角度光与同轴光组合，把缺陷从背景纹理中“抬”出来；再用正常样本训练异常检测模型，降低对缺陷样本数量的依赖。

阶段性进展：
• 在6代线抽检工位完成离线验证，对Mura与微划痕的召回较原规则阈值方案提升约12个百分点，灰尘类误报下降近三成；
• 复判模型引入缺陷位置、形状与历史判定，形成“疑似—确认—豁免”三级输出，便于产线按等级拦截。

下一步计划：补充不同亮度与视角下的正常样本，验证模型在换型、换膜材后的漂移，并评估边缘推理盒节拍能否满足在线全检。