显示面板外观缺陷检测：微弱缺陷成像与样本合成

在显示面板外观检测中，真正的难点往往不是明显破片，而是低对比度的微划痕、异物与Mura类亮度不均。此类缺陷在常规明场成像下信噪比偏低，且不同型号面板的膜层反光特性差异明显，模型在换型后容易失效。

本期实验围绕两条路径推进：一是改造成像端，将条纹反射（相位偏折）与低角度暗场组合使用，把微划痕与异物从背景纹理中分离，测试集上单帧缺陷对比度平均提升约2倍；二是用物理仿真合成缺陷样本，配合少量真实标注做小样本微调，使新面板型号冷启动阶段的漏检率下降约三成。

下一步计划把成像参数与判级阈值纳入同一配置表，实现型号切换时的参数继承，并在产线验证误报复核工作量能否同步下降。