显示面板AI外观缺陷检测：多角度成像与弱对比缺陷分割

在显示面板外观检测中，划痕、异物、弱Mura等缺陷常因低对比、反光与纹理干扰被漏检或过杀。本阶段实验把重点从单一正视角改为多角度光源成像：以低角度暗场突出划痕与异物，以同轴明场保留膜层色差，再通过亚像素配准将多帧对齐到面板坐标系。检测模型采用轻量分割网络加缺陷分类头，先输出像素级候选，再依据长宽比、灰度对比、邻域纹理做分级。为缓解缺陷样本稀缺，使用正常样本合成划痕与尘点，并在不同分辨率、面板尺寸和工序间做域随机化。
要点：

• 进展：在内部测试集上，弱对比划痕召回率由82%提升至91%，单面板误报点由3.4降至1.8。
• 下一步：接入产线复判工位，按缺陷等级回流标注，校准不同膜材与光照衰减下的判定阈值。