AI高反光曲面缺陷检测：多光源成像与融合

高反光曲面（金属壳体、玻璃容器）在单角度成像下容易过曝或出现盲区，划痕、凹坑与油污的对比度常被噪声淹没。计算机视觉实验室本周完成一组实验：用可编程环形光源分时点亮 8 个方向，同一工位采集 8 张图像，先做几何配准，再由轻量分割网络完成多通道融合与缺陷分割，并加入伪影抑制规则过滤光源边缘的杂散反射。

进展与数据：

• 在 3 类曲面件、1200 张标注样本上，缺陷召回由单角度基线的 78% 提升至 94%，过检率由 6.2% 降至 3.1%；
• 单件节拍 1.8 秒（含 8 次曝光与推理），实验室复现工位已连续跑测 72 小时，内存占用平稳。

下一步：补充划痕、凹坑、脏污的细分类标注，并将光源序列与模型做联合搜索，减少人工调光工时。