显示面板Mura检测：低对比度成像与缺陷分级

显示面板外观缺陷中，划伤、异物等高对比度缺陷用常规AOI已相对稳定，真正难判的是Mura一类低对比度、边界模糊、大尺度的不均匀缺陷。本期实验室把工作收在成像与判级两段。

成像端，用低角度暗场照明配合多相位亮度调制，让面板自身的像素栅格与反射纹理在差分中被压低，再以多帧合成抬高弱对比度缺陷的信噪比；同一片面板采2~3组相位图，缺陷在至少一组中可稳定显形。判级端不依赖单点阈值：先做背景拟合剥离低频亮度梯度，再按区域能量与形状特征生成候选，最后由分级规则映射到OK/NG/复判三档。

要点一：内部200片含缺陷样本上，Mura类召回率约92%，误报率较原方案下降约四成；漏检集中在边缘R角区，与背光不均耦合。
要点二：下一步补充边缘专用光源与分区基线，并将复判结论回流为阈值自校准样本。