显示面板外观缺陷检测：弱对比度Mura与假点抑制

显示面板外观检测的核心矛盾，是弱对比度缺陷上过检与漏检的拉扯：Mura、微划伤与正常纹理的灰度差常低于3个灰阶，背光不均与膜层干涉又让同一缺陷在不同视角下形态不同。本期实验把流程拆为「候选定位—特征复核—分级输出」三段：候选阶段用轻量分割网络在降采样图上召回可疑区域，复核阶段在原始分辨率裁切局部，并引入多角度斜射光与偏振成像，压低膜面反光对缺陷对比度的干扰。

要点：
· 进展：在6.8英寸OLED与15.6英寸LCD两类面板上完成对比测试，弱对比度Mura召回率由人工抽检的约78%提升至93%，过检点数下降约四成，单点判定耗时控制在40ms内，未超出在线节拍。
· 下一步：接入MES的型号与批次信息，将换型由参数重调改为配方切换；并按缺陷类型分层建设小样本增量训练流程，重点压制灰尘、指纹与真实缺陷的混淆。