显示面板外观检测的难点不在缺陷种类多，而在于缺陷样本少、背景纹理复杂，且产线对过检的容忍度很低。本阶段我们调整了思路：先建立正常样本基线，再谈缺陷分类。
成像端采用多角度光度立体与高分辨率线扫，利用高度差与反光差异分离划痕、异物、边缘崩缺；对 Mura 这类低对比度缺陷，改用低频背景抑制加分块统计，避免被正常亮度渐变淹没。算法端以无监督异常检测为主干，仅用少量已确认缺陷做微调，输出缺陷掩膜并映射到面板坐标，供复判工位定位。
要点：
- 阶段进展：在内部测试集上，相对原规则阈值方案，过检样本量降低约三成，关键缺陷召回未见下降；换型时的主要工作量从改规则转为确认基线图像。
- 下一步：与复判工位联动，将人工判定结果回流为增量样本，并验证跨型号、跨代线的阈值迁移，目标是把换型标定压缩到可接受的人工确认范围。
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