显示面板外观检测的难点不在“有没有”，而在“分得清、判得准”：Mura类亮度不均对比度常低于2%，与面板自身亮度梯度、背光纹路混在一起，阈值法要么漏检，要么把正常渐变判成缺陷。
本阶段实验沿三条线推进：一是成像端用同轴明场＋低角度暗场＋偏振通道同步采集，把表面异物、划伤与内部Mura在通道间分离；二是用分区平场校正拟合面板自身亮度分布，抑制低频梯度对缺陷信号的淹没；三是针对缺陷样本稀缺，按物理成因合成Mura与微划伤，叠加真实背景纹理后与产线实拍样本混合训练，降低对大批量标注的依赖。
进展（某6代线试跑，连续两周抽检约1500片）：
- 暗场通道对≥30μm异物的检出下限由50μm下调，人工复判漏检由每千片约3片降至1片以内；
- 过检率由4.2%降至1.4%，剩余误判主要来自边缘胶框区域的规则纹理。
下一步：把分级阈值与客户端Mura判定口径（亮度差百分比与面积占比）对齐，建立复判结果自动回灌的闭环，目标过检率控制在1%以内，并补充柔性面板的成像适配。
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