显示面板AI外观缺陷检测定制：弱缺陷成像与过检抑制

显示面板外观检测的难点不在明显破片，而在低对比度Mura、细划痕与灰尘异物的混淆。本期实验线阶段，我们以多角度低角度照明与同轴光组合采集图像，先做屏幕区域对齐与亮度归一化，再把缺陷分割和异常打分并联：分割网络负责划痕、崩边等有明确形态的缺陷，异常检测分支用正常样本建模，降低对缺陷样本数量的依赖。

• 进展：在6.5代线抽检集上，细划痕与Mura召回率约96.8%，过检率由约9%降至约4.5%；灰尘误报通过多光源一致性和形态规则二次复核。
• 下一步：补充不同亮度与视角下的增量样本，加入缺陷归因标签，并验证跨型号切换时阈值自动迁移的稳定性。