显示面板外观检测的难点不在缺陷本身，而在成像条件下的信噪比。Cell 段常见的 Mura、微划伤与异色点，与像素栅格、彩膜纹理高度耦合，固定阈值容易把正常纹理判成缺陷。
本阶段实验把流程拆成三步：先做多通道配准与光照归一化，抑制亮度不均带来的伪影；再用方向性滤波分离栅格周期性纹理，保留非周期异常；最后由小样本缺陷库训练轻量分割模型，输出缺陷掩膜与置信度，判定层按尺寸、对比度、位置分级放行。
进展：在自建 5000 张面板样本集上，弱对比划伤（对比度低于 3 灰度级）召回率由 71% 提升至 89%，等效过检率下降约四成；单张图像推理耗时控制在 300ms 内，可匹配产线节拍。
下一步：补充不同批次背光与膜材的成像差异样本，将光照归一化参数改为在线自校准；同时接入复判工位，把人工复判结果回流入库，形成“检测—复判—再训练”小闭环，验证跨型号迁移时的稳定性。
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