显示面板AI外观检测：低对比度Mura与过杀率

显示面板的外观缺陷里，最难的往往不是划痕、崩缺这类高对比度目标，而是Mura、色偏、细微亮暗点这类在灰度图上只差几个等级的区域。产线现有AOI为压漏检通常把阈值调得很敏感，代价是过杀率上升，复判工位压力大。本实验室近期工作聚焦三点：一是成像端固定角度与积分时间，用多通道侧向光把弱对比度缺陷的局部信噪比拉起来；二是检测端先做分区背景拟合，再在残差图上做小目标分割，避免面板自身亮度梯度被误判成Mura；三是判级端按尺寸、对比度、位置输出A/B/C等级，与判废标准对齐，而不是只给一个良或不良。阶段性数据：在两条产线约1.2万张样本上，过杀率相对原有规则下降约三成，Mura类漏检未见增加；新品小样本导入时，用存量模型加少量标注微调，冷启动从两周压到三天左右。下一步把复判结果回流做成在线闭环，重点验证不同亮度衰减条件下的阈值稳定性。