显示面板AI外观检测：低对比度Mura成像增强

在显示面板外观检测中，划痕、异色点这类高对比缺陷用常规明场成像已相对稳定，真正难判的是低对比度Mura：它与像素纹理、膜层干涉在灰度上高度接近，单一阈值既容易漏放，收紧阈值又会带来大量过杀。

本期实验沿成像与判定两条线推进。成像端增加斜射与偏振通道，采集同一区域的多视角图像，利用缺陷在不同入射角下的响应差异做通道间差分，抬高信噪比；判定端以粗标注的弱监督分割替代逐像素标注，先定位疑似区域，再由分类头给出缺陷类型与等级，降低标注成本。

要点：
· 进展：在6代线小批量样品（含人工复核确认的Mura样本约300例）上，多视角差分使疑似区域召回提升至0.93，过杀仍主要来自膜层纹理干扰。
· 下一步：评估多通道采集对单板检测节拍的增量，并整理跨型号的阈值迁移方案。