在光伏组件产线，EL（电致发光）成像能暴露肉眼不可见的隐裂、断栅与混片，但图像亮度会随电池片效率、串焊工艺和相机曝光漂移，固定阈值容易把低效片误判为缺陷。本阶段实验把问题拆成两步：先做亮度归一化与栅线对齐，再按缺陷形态做分级判定，输出「可放行 / 降级 / 拦截」三档结论，并回写到串级追溯码，便于后续按串定位与复检。
进展：
- 在两条产线的离线样本集上（约 1.2 万张 EL 图，覆盖 4 种版型），归一化后缺陷召回从 82% 提升至 94%，误报率由 6.8% 降至 2.3%；单张推理约 120 ms，按串拼图后处理可跟上约 4 秒/串的节拍。
- 分级阈值目前仍依赖工艺工程师标定，下一步计划引入少量人工复核样本做增量微调，并把分级结果与串焊、层压工序参数关联，观察隐裂是否集中在特定工艺窗口，再判断能否前移到焊前拦截。
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