显示面板AI外观缺陷检测：弱对比划痕的成像增强与判定

显示面板外观检测的难点不在“看见”，而在弱对比缺陷的稳定成像与判定。盖板玻璃与OLED模组上的划痕、异物、白点常只有几微米，又处在强反光背景上，单一光源下信噪比不足，模型很容易把纹理噪声当成缺陷。

本期实验采用暗场与多角度条纹光分时成像，将同一缺陷在多张图上的响应做像素级配准后融合，再送入轻量分割网络提取候选区域；判定环节按缺陷类型分级设阈值，并保留人工复判样本回流，避免一刀切阈值导致过杀与漏检互相拉扯。

· 阶段性进展：在某面板厂抽检工位试点，覆盖盖板玻璃与模组贴合后外观共9类缺陷，单板节拍3.2 s，弱对比划痕漏检率由人工目检的4.1%降至1.3%，过杀率2.7%。
· 下一步计划：接入产线MES的批次与工艺参数，验证不同批次镀膜、贴合差异下的阈值漂移，并尝试用在线回流样本做模型周级微调。