显示面板外观检测的难点不在缺陷尺寸，而在对比度。盖板玻璃与OLED模组在明场下近似镜面反射，微划伤、浅Mura、异色斑往往只有几个灰阶差异，单一光源加固定阈值的方案要么漏检，要么把灰尘、指纹、水痕一并判为不良，过杀率居高不下。
本阶段实验采用「多模态成像 + 双通道判定」思路。成像侧用明场、暗场、同轴三组频闪光源分时取图，按缺陷类型分配权重；算法侧分两路，已知缺陷走小样本检测头，未知异常走正常样本重建残差，两路结果按区域置信度融合输出。高反光边缘区域单独建模，避免整幅图像统一阈值带来的误判。
阶段性进展：
- 在某6代线抽检数据集上，浅划伤（对比度低于5灰阶）召回率由71%提升至89%，灰尘类过杀下降约三成；
- 复判结果与MES工单关联并按天回流，用于更新各区域的判定阈值。
下一步：将相机与光源参数纳入工艺配方，验证换型时的自动标定与阈值迁移，并测试曲面边缘区的稳定性。
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